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键盘外观检测-VDK系列

检测范围：≤320mm*320mm

外观尺寸：1500mm*2100mm*1700mm

设备功能：具备AOI、OCR等功能

缺陷类型：有感、无感划痕，磁铁缝隙不良，皮革外观缺陷，键帽高度检测，键帽间距量测，镭雕字体及LOGO检测等

软件算法：深度神经网络算法，颜色对比，轮廓识别，偏移检测，模板匹配，字符对比等

产品介绍

键盘在生产过程中产生的缺陷类型较多且缺陷位置不固定，从而导致目前目检人数较多且漏检率高，此款AOI(自动光学检测）设备针对此需求痛点而开发，可对产品的外观、尺寸、排版印刷错误等进行检测。设备采用光学+机械+AI软件算法的开发架构，通过深度神经网络学习算法仿真人眼检测可以检测出沟槽的缺陷不良及无感划痕。

超强的检测性能

无感划痕检测功能，AI算法加持，保证检测稳定性及效率。
一机多用

可实现检测+测量双功能，减少客户的设备采购陈本。
高效的检测性能

采用双工位设计方案，大大提高生了产效率，AI深度学习算法，大大提高了运算效率及准确性。
先进的检测算法

迅镭自主开发，AI深度学习网络算法，丰富的缺陷数据库，强大的缺陷学习能力。

样品展示

键盘外观检测-VDK系列特性参数

检测范围：	≤320mm*320mm

外观尺寸：	1500mm2100mm1700mm：
设备功能：	具备AOI、OCR等功能；
缺陷种类：	电脑键盘上的外观不良：键盘上的有感、无感划痕，磁铁缝隙不良，皮革上下皮白点，皮革上下皮褶皱，键帽高度，键帽间距的量测，镭雕字体及logo检测等；
软件算法：	深度神经网络算法，颜色对比，轮廓识别，偏移检测，模板匹配，字符对比等；

UPH(每小时产能):	90PCS;

*所有技术参数以最新技术方案为准。

配套设备

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键盘外观检测-VDK系列

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